写真素材 - Close up CMM probe near machine part inspecting small minute machinery flaw metrology

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450 x 300px15.9 x 10.6cm (72dpi / JPG)

198円
(税込217円)

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848 x 565px29.9 x 19.9cm (72dpi / JPG)

396円
(税込435円)

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1678 x 1119px14.2 x 9.5cm (300dpi / JPG)

792円
(税込871円)

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3831 x 2554px32.4 x 21.6cm (300dpi / JPG)

1,584円
(税込1,742円)

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7241 x 4827px61.3 x 40.9cm (300dpi / TIFF)

2,574円
(税込2,831円)

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