素材 - An automated wafer probe station with robotic arms and microscopic probes tests a silicon wafer in a sterile, high-tech cleanroom. Monitors display real-time analysis data.

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450 x 450px15.9 x 15.9cm (72dpi / JPG)

198円
(税込217円)

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692 x 692px24.4 x 24.4cm (72dpi / JPG)

396円
(税込435円)

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1370 x 1370px11.6 x 11.6cm (300dpi / JPG)

792円
(税込871円)

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3128 x 3128px26.5 x 26.5cm (300dpi / JPG)

1,584円
(税込1,742円)

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5912 x 5912px50.1 x 50.1cm (300dpi / TIFF)

2,574円
(税込2,831円)

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