素材 - Generative AI Manual probe system for RF test of semiconductor silicon wafers. Selective focus.

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450 x 252px15.9 x 8.9cm (72dpi / JPG)

198円
(税込217円)

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924 x 518px32.6 x 18.3cm (72dpi / JPG)

396円
(税込435円)

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1830 x 1026px15.5 x 8.7cm (300dpi / JPG)

792円
(税込871円)

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4179 x 2342px35.4 x 19.8cm (300dpi / JPG)

1,584円
(税込1,742円)

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7897 x 4426px66.9 x 37.5cm (300dpi / TIFF)

2,574円
(税込2,831円)

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